ATP/ATR  СПЕКТРОМЕТР   Новости   Контакты   Материалы   Форум   Карта сайта   Поиск

При работе в условиях предельной разрешающей способности спектрометрической системы рассеянный свет, исходящий от оптической скамьи, дифракционной решетки и фокусирующего зеркала, может ограничивать нижний предел чувствительности. Большинство дифракционных решеток изготавливаются по голографическому принципу, и, как известно, это уменьшает их светорассеивающие характеристики.

Обычно рассеянный свет составляет <0.05 % при 600 нм,  <0.10 % при 435 нм и  <0.10 % при 250 нм. Эффекты второго порядка, характерные для дифракционных решеток с низкой плотностью бороздок (линий) и широким диапазоном длин волн, обычно вызывают появление дифракционных лучей второго порядка. Эти эффекты часто игнорируют, но иногда бывает необходимо избавиться от них.

Можно устранить эффекты второго порядка, используя установку оптических фильтров на входной SMA коннектор или специального покрытия на поверхность детектора. Такие покрытия детектора обычно имеют один (590 нм) или два (350 нм и 590 нм) пропускных фильтра, в зависимости от типа дифракционной решетки.

В таблице приведены различные оптические фильтры, которые могут быть установлены в оптическую платформу спектрометра. Рекомендуется использование следующих фильтров: OSF-475 для дифракционной решетки NB и NC, OSF-515/550 для дифракционной решетки NB и OSF-600 для дифракционной решетки IB.

Дополнительно мы реализовали отдельное покрытие DUV для детекторов Sony 2048 и Toshiba 3648 для устранения эффектов второго порядка для УФ-диапазона, увеличения  чувствительности и уменьшения шумовых характеристик в видимом диапазоне.

Отдельные покрытия DUV устанавливаются автоматически для следующих типов дифракционных решеток:

• UA для 200-1100 нм, DUV400, покрытие первых 400 элементов

• UB для 200-700 нм, DUV800, покрытие первых 800 pixels элементов